광학계의 잡광 분석 방법 및 이를 수행하는 광학계의 잡광 분석 장치

Title
광학계의 잡광 분석 방법 및 이를 수행하는 광학계의 잡광 분석 장치
Alternative Title
METHOD FOR ANALYZING STRAY LIGHT AND APPARATUS PERFORMING THE SAME
Author(s)
조성익; 안기범
KIOST Author(s)
Cho, Seong Ick(조성익)
Application Date
2016-11-08
Registration Date
2019-03-22
Application No.
10-2016-0148093 KIPRIS
Registration No.
10-1963162
Country
KO
Abstract
본 발명에 따른 광학계의 잡광 분석 방법은 적어도 하나의 광학 부재와 상기 광학 부재를 지지하기 위한
적어도 하나의 구조물로 구성되는 광학계 및 상기 광학계의 입사동으로부터 입사하는 광을 검출하는 디텍
터 를 포함하여 구성되는 광학 시스템을 모델링하는 단계 상기 모델링된 광학 시스템에서, 상기 디텍터
를 테스트 광원으로 정의하고, 상기 정의된 테스트 광원에서 상기 입사동 방향으로 테스트 광을 출력하는
단계 상기 광학계를 거쳐 상기 입사동으로 입사하는 테스트 광의 입사 방향 정보를 생성하는 단계 및 상
기 생성된 입사 방향 정보를 기초로 상기 광학 시스템의 잡광 발생 인자를 도출하는 단계 를 포함한다.
URI
https://sciwatch.kiost.ac.kr/handle/2020.kiost/21831
Type
Patent
Related Researcher
Research Interests

Development of Ocean Satellites and Data Analytics,해양위성 및 영상분석 실용화 기술 개발

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