광학계의 잡광 분석 방법 및 이를 수행하는 광학계의 잡광 분석 장치
- Title
- 광학계의 잡광 분석 방법 및 이를 수행하는 광학계의 잡광 분석 장치
- Alternative Title
- METHOD FOR ANALYZING STRAY LIGHT AND APPARATUS PERFORMING THE SAME
- Assignee(s)
- 한국해양과학기술원
- Application Date
- 2016-11-08
- Registration Date
- 2019-03-22
- Application No.
- 10-2016-0148093 KIPRIS
- Registration No.
- 10-1963162
- Country
- KO
- Abstract
- 본 발명에 따른 광학계의 잡광 분석 방법은 적어도 하나의 광학 부재와 상기 광학 부재를 지지하기 위한
적어도 하나의 구조물로 구성되는 광학계 및 상기 광학계의 입사동으로부터 입사하는 광을 검출하는 디텍
터 를 포함하여 구성되는 광학 시스템을 모델링하는 단계 상기 모델링된 광학 시스템에서, 상기 디텍터
를 테스트 광원으로 정의하고, 상기 정의된 테스트 광원에서 상기 입사동 방향으로 테스트 광을 출력하는
단계 상기 광학계를 거쳐 상기 입사동으로 입사하는 테스트 광의 입사 방향 정보를 생성하는 단계 및 상
기 생성된 입사 방향 정보를 기초로 상기 광학 시스템의 잡광 발생 인자를 도출하는 단계 를 포함한다.
- Type
- Patent
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