광학계의 잡광 분석 방법 및 이를 수행하는 광학계의 잡광 분석 장치
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 안기범(퇴직) | - |
| dc.contributor.author | 조성익(퇴직) | - |
| dc.date.accessioned | 2020-07-15T06:26:47Z | - |
| dc.date.available | 2020-07-15T06:26:47Z | - |
| dc.date.issued | 2016-11-08 | - |
| dc.identifier.uri | https://sciwatch.kiost.ac.kr/handle/2020.kiost/21831 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명에 따른 광학계의 잡광 분석 방법은 적어도 하나의 광학 부재와 상기 광학 부재를 지지하기 위한 적어도 하나의 구조물로 구성되는 광학계 및 상기 광학계의 입사동으로부터 입사하는 광을 검출하는 디텍 터 를 포함하여 구성되는 광학 시스템을 모델링하는 단계 상기 모델링된 광학 시스템에서, 상기 디텍터 를 테스트 광원으로 정의하고, 상기 정의된 테스트 광원에서 상기 입사동 방향으로 테스트 광을 출력하는 단계 상기 광학계를 거쳐 상기 입사동으로 입사하는 테스트 광의 입사 방향 정보를 생성하는 단계 및 상 기 생성된 입사 방향 정보를 기초로 상기 광학 시스템의 잡광 발생 인자를 도출하는 단계 를 포함한다. | - |
| dc.title | 광학계의 잡광 분석 방법 및 이를 수행하는 광학계의 잡광 분석 장치 | - |
| dc.title.alternative | METHOD FOR ANALYZING STRAY LIGHT AND APPARATUS PERFORMING THE SAME | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.date.application | 2016-11-08 | - |
| dc.date.registration | 2019-03-22 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2016-0148093 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1963162 | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국해양과학기술원 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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