광학부재의 위치 오차 평가방법

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dc.contributor.author 오은송 -
dc.contributor.author 안기범 -
dc.contributor.author 김석환 -
dc.date.accessioned 2022-06-16T08:30:04Z -
dc.date.available 2022-06-16T08:30:04Z -
dc.date.issued 2012-12-27 -
dc.identifier.uri https://sciwatch.kiost.ac.kr/handle/2020.kiost/42746 -
dc.description.abstract 본 발명은 심우주용 카세그레인 형태 광학계의 정밀한 조립/정렬을 위한 기술로써, 광학계의 광축 방향의 파면오 차 값을 수 마이크로미터 편심과 비틀림을 측정하여, 광학 시스템의 정렬 민감도를 파악하고, 제르니케 계 수의 특 성을 이용하여 광학계의 현재 정렬 상태를 역으로 예측하여, 최적의 광학계 정렬 상태로 조립하는 기술이 다. -
dc.title 광학부재의 위치 오차 평가방법 -
dc.title.alternative Direct sampled sensitivity table alignment method with on-axis WFE measurement -
dc.type Patent -
dc.contributor.alternativeName 오은송 -
dc.contributor.alternativeName 안기범 -
dc.date.application 2012-12-27 -
dc.date.registration 2014-05-14 -
dc.identifier.patentApplicationNumber 10-2012-0155253 -
dc.identifier.patentRegistrationNumber 10-1397534 -
dc.type.iprs 특허 -
dc.contributor.assignee 한국해양과학기술원 -
dc.publisher.country KO -
Appears in Collections:
Marine Digital Resources Department > Korea Ocean Satellite Center > 4. Patents
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