해저면 퇴적물층 분석을 위한 이미지 프로파일링 장치

Title
해저면 퇴적물층 분석을 위한 이미지 프로파일링 장치
Alternative Title
Image profiling apparatus for analysis of sediment layer on seafloor
Author(s)
박찬홍; 최상화; 김형철; 백현민; 김성한; 이재성
KIOST Author(s)
Choi, Sang-Hwa(최상화)Baek, Hyunmin(백현민)Kim, Sung Han(김성한)Lee, Jae Seong(이재성)
Assignee(s)
한국해양과학기술원
Application Date
2018-05-23
Registration Date
2020-02-18
Application No.
10-2018-0058592 KIPRIS
Registration No.
10-2080595
Country
KO
Abstract
본 발명은 해저면의 퇴적물층으로 미러케이싱의 하단측을 침투시킨 상태에서 미러케이싱 전방측의 수직평
면부에 설치된 투명유리판으로부터 미러케이싱 후방 하측의 경사면부에 설치된 반사판을 거쳐 반사되는 이
미지를 미러케이싱 상부면의 측정부케이싱에 내장된 카메라유닛으로 촬영하여 퇴적물층의 분석작업을 수행
토록 한 프로파일러에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 상기 투명유리판과 반사판을 제외한 미러케이싱의
박스 몸통 전체를 투명 아크릴 블록으로 제작하고, 투명유리판과 반사판이 설치되지 아니한 투명 아크릴
블록의 측면부에 불투명한 재질의 차광시트를 부착시킨 이미지 프로파일러를 제공하는 한편, 상기 측정부
케이싱의 상단측에 연결 설치된 스크류모터와 스크류축을 이용하여 이미지 프로파일러를 요구하는 높이만
큼 나사식으로 승하강시킬 수 있는 프로파일링 장치를 제공함으로서, 증류수가 충진된 미러케이싱을 무게
추로 침투시켰던 기존 방식과 비교하여 프로파일링 장치의 하중을 최대한 경량화시킬 수 있도록 하고, 이
를 통하여 프로파일링 장치를 해저면상에 안착시키는 설치작업 및 선박으로의 회수작업에 따른 편의성과
안전성을 충분히 확보함과 동시에, 이미지 프로파일러의 하단측을 퇴적물층으로 침투시키는 세팅작업도 별
다른 충격없이 보다 더 섬세하게 수행할 수 있도록 한 해저면 퇴적물층 분석을 위한 이미지 프로파일러
및 이를 이용한 프로파일링 장치에 관한 것이다.
URI
https://sciwatch.kiost.ac.kr/handle/2020.kiost/37713
Type
Patent
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